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三豐525系列-表面粗糙度和輪廓測量儀

簡要描述:

三豐525系列-表面粗糙度和輪廓測量儀SV-C3200/SV-C4500表面粗糙度測量功能

高分辨力型Z1軸檢出器作為標準件提供。Z1軸的Z高顯示分辨力為0.0001μm(測量范圍為8μm時)。
X軸內置高精度玻璃光柵尺,直接讀取X軸移動距離,在搞精度精準定位下,完成間距參數的評價。
檢出器測力有4mN和0.75mN可選。

更新時間:2018-03-02

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三豐525系列-表面粗糙度和輪廓測量儀SV-C3200/SV-C4500

三豐525系列-表面粗糙度和輪廓測量儀SV-C3200/SV-C4500表面粗糙度測量功能

  1. 高分辨力型Z1軸檢出器作為標準件提供。Z1軸的zui高顯示分辨力為0.0001μm(測量范圍為8μm時)。
  2. X軸內置高精度玻璃光柵尺,直接讀取X軸移動距離,在搞精度精準定位下,完成間距參數的評價。
  3. 檢出器測力有4mN0.75mN可選。

三豐525系列-表面粗糙度和輪廓測量儀SV-C3200/SV-C4500輪廓測量功能

  1. Z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡,以實現高精度和高分辨力。與傳統型號相比,新測臂使Z1軸測量范圍增大了10mm,同時減少了工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性鏈接件,單此接觸就能完成測臂的裝卸,提高了易用性。
  2. 專為SV-C-4500系統增加了以下兩大特性作為輪廓測量系統的功能。
    • 裝配雙錐面測針,實現垂直方向(上/下)連續測量,所獲取的數據實現簡單分析以往難以測量得內螺紋有效直徑。
    • 測力可在FORMTRACEPAK軟件中設置。無需調整配重。
  3. 的表面粗糙度/輪廓FOTMTRACEPAK分析程序,通過簡單的操作就能進行高級分析并即刻輸出結果。
  4. 表面粗糙度測試儀和輪廓度測量儀結合在一起,節省安裝空間。

三豐525系列-表面粗糙度和輪廓測量儀SV-C3200/SV-C4500規格

貨號

CV-3200S4

CV-3200H4

CV-3200W4

CV-3200S8

CV-3200H8

CV-3200W8

CV-4500S4

CV-4500H4

CV-4500W4

CV-4500S8

CV-4500H8

CV-4500W8

★量表面粗糙度時

測量范圍

X軸(驅動部

100MM

200MM

Z1軸(檢出器)

800μm/80μm/8μm

直線度

0.05+L/1000)μm  L:驅動長度(mm

0.5μm/200mm

分辨力

Z1軸(檢出器

0.01μm800μm),0.001μm80μm),0.0001μm8μm

測力

0.75mN(機身代碼末尾帶“-1的型號)

4N(機身代碼末尾帶“-2的型號)

測針針尖形狀

60°,2μmR(機身代碼末尾帶“-1的型號)

90°,5μmR(機身代碼末尾帶“-1的型號)

對應尺寸

JIS1982/JIS1994/ JIS2001/ ISO1997/ANSI/VDA

評價參數

Pa,Pq.Psk,Pku,Pp,Pv,Pz,Pt,Pc,PSm,Pq,Pmr(C),Pmr,P&c,Ra,Rc,RSm,Rq,Rmr(C),Rmr,R&c, Wa,Wq.Wsk,Wku,Wp,Wv,Wz,Wt,Wc,WSm,Wq,Wmr(C),Wmr,W&c Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,Rx,AR,R,,AW,W,Wte,Ry,RyDIN.RzDIN,R3y,R3z,S,HSC,Lo,lr,,a,λa,λq,Vo,Htp,NR,NCRX,CPM,SR,SAR,NW,SW,SAW

輪廓分析

原始輪廓,粗糙度輪廓,濾波波紋輪廓,波紋輪廓,滾動圓波形原始輪廓,滾動圓波形輪廓,包絡殘余線,DF輪廓(DIN4776/ISO13565-1)、表面粗糙度MOTIF(包絡波紋輪廓在評價MOTIF時顯示)

分析圖表

負荷曲線,振幅分布曲線,功率譜,自相關,Walsh功率譜,Walsh自相關,分布,傾斜角分布,參數分布(磨損量、重疊在輪廓分析可以用于面積等的原始分析)

曲線補充

zui小平方直線、R面補償、橢圓補償、拋物線補償,雙曲線補償,二次曲線補償,多頂式補償(自動或任意2-7次),無補償

濾波器

高斯濾波器,2CRPC75,2CRPC50,2CR75,2CR50,魯棒樣條濾波器

輪廓測量

測量范圍

X軸(驅動部)

100MM

200MM

Z1軸(檢出器)

60mm(水平位置±30mm)

直線度

0.8μm/100mm

2μm/200mm

精度

 

X軸(驅動部)

±(0.8+0.01L)μm   L=驅動長度(mm

±(0.8+0.02L)μm   L=驅動長度(mm

Z1軸(檢出器)

SV-C3200系列:±(1.6+2H/100)μm   SV-C4500系列:±(0.8+2H/100)μm

H=水平位置上的測量高度(mm

分辨力

X軸(驅動部)

0.05μm

Z1軸(檢出器)

SV-C3200系列:0.04μm   SV-C4500系列:0.02μm

Z2軸(立柱)

1μm

測力

SV-C3200系列:30mN(可調使用重量)  

SV-C4500系列:10,20,30,40,50mN (根據軟件轉換)

測頭方向

SV-C3200系列:垂直方向(向上/向下單獨測量)

SV-C4500系列:垂直方向(向上/向下根據配重調整)

☆通用時

 

Z2軸(立柱)移動量

300mm

500mm

300mm

50mm

X軸傾斜角度

±45°

驅動速度

X

0-80mm/s外加手動

Z2軸(立柱)

0-30mm/s外加手動

測量速度

0.02-5mm/s

          

注:雖然天然石材測量桌的外觀各有不同,但材料的穩定性是值得信賴的。

 

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